顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、複合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方麵保證了優異的性能。

Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平台的光學測量設備，用於表征厚度範圍為1nm-1mm 的塗層。

FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個微米，進而分析微小區域或者粗糙表麵薄膜特征。

硬化塗層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表麵，粗糙表麵及許多其他表麵。

FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應用，例如微圖案表麵、高粗糙度表麵的樣品等等隻需單擊鼠標即可在 Vis/NIR波長範圍中測量微小區域薄膜厚度、光學常數、反射率、透射率和吸光度

FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動薄膜厚度測繪係統，用於全自動圖案化晶圓上的單層和多層塗層厚度測量。電動X-Y載物台提供適用尺寸 300mm x 300mm毫米的行程，通過真空固定在載台上時進行精確測量。可依測量厚度和波長範圍應用需求可在在 200-1700nm 光譜範圍內提供各種光學配置